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FEI Tecnai G20 透射电子显微镜
发布时间:2012-06-26  浏览次数:

仪器先容:

Tecnai G2 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G2 20成为材料分析研究的重要仪器。

标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(最大40o)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G2 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G2 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G2 20都能够满足日益增多的样品数量。

技术参数:

LaB6灯丝或钨灯丝
晶格分辨率极限
 U-TWIN 0.12nm;
 S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm
点分辨率
 U-TWIN 0.19nm
 S-TWIN 0.24nm
 X-TWIN 0.25nm
放大倍数 25x - 1100kx
样品最大倾角 +/- 40o
计算机控制的全数字化电镜
加速电压 20-200kV,连续可调
电子束能量色散 <0.7eV
最大束流 >100nA. 1nm束斑最大束流>0.5nA.
样品最大倾角 S-TWIN +/- 40o
Tomography样品杆 +/- 70o
EDS立体角
  X-TWIN 0.3sr
  S-TWIN/U-TWIN 0.13sr
 
主要特点:

100%数字化系统
FEI专利技术S-TWIN/U-TWIN物镜
CompuStage样品台提供高精度的样品位置控制
全连锁的洁净的真空系统
可选完全集成化的各种附件, 如能谱仪、CCD相机等
高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米分析
所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术
多用户环境下的方便和安全操作
适用于大量样品的快捷分析

主要功能和应用范围: 

反映样品组织形态的形貌及样品晶格条纹图象,可获得无机材料、有机材料,以及无机有机复合材料,尤其是粉体材料、纳米材料、纳米复合材料的原始形貌, 进行尺度表征及分布表征;也可用于多相金属负载催化剂的晶型识别及粒子大小及其分布的表征。

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